Specific Process Knowledge/Characterization: Difference between revisions

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-|align="left"| Band gap||||||||||||||x||||N||x||||||||||||||||||||
+|align="left"| Band gap||||||||||||||x||||x||x||||||||||||||||||||
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 |align="left"| [[Specific_Process_Knowledge/Characterization/Thickness_Measurer|Wafer thickness]]||x  1)||x   1)||||||||||||x||||||||||||||||||||||||
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+|align="left"| Work function||||||||||||||||B||||||||||||||||||||||||
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