Specific Process Knowledge/Characterization: Difference between revisions
Appearance
| Line 71: | Line 71: | ||
|- | |- | ||
|-style="background:#C0C0C0;" | |-style="background:#C0C0C0;" | ||
| Crystalinity||||||||||||||||||||||||||x|||||||| | | Crystalinity||||||||||||||||||||||||||x||||||||x | ||
|- | |- | ||
|-style="background:#DCDCDC;" | |-style="background:#DCDCDC;" | ||
| Line 85: | Line 85: | ||
| Voids in wafer bonding||||||||||||||||||||x|||||||||||||| | | Voids in wafer bonding||||||||||||||||||||x|||||||||||||| | ||
|- | |- | ||
|-style="background:#DCDCDC;" | |||
| Phase changes||||||||||||||||||||||||||||||||||x | |||
|- | |||
| | | | ||